Анализатор RFP обеспечивает проведение разнообразных экспериментов с осаждением твердой органической фазы асфальтенов и парафинов из пробы пластового флюида, включая:
позволяет рассчитать относительное содержание частиц, размер и распределение частиц по размерам и определить условия начала осаждения твердой углеводородной фазы из пробы пластового флюида.
Детали установки, контактирующие с измеряемой средой, могут быть выполнены либо из высококачественной нержавеющей стали, либо из коррозионно-стойкого сплава («Hastelloy») для исследования чрезвычайно коррозионных и агрессивных флюидов.
Система микроскопа высокого давления – HPM позволяет выполнять непосредственные визуальные наблюдения за выпадением твердых частиц асфальтенов и парафинов в условиях их осаждения из пластовой нефти, идентифицировать твердые частицы, отслеживать изменения размера и морфологии кристаллов парафина и частиц асфальтенов в зависимости от температуры, давления, времени и влияния обработок различными хим. реагентами.
Система обнаружения твердой фазы с источником лазерного излучения - SDS позволяет детектировать с высокой точностью появление твердых частиц в исследуемой пробе и определять момент начала выпадения твердых органических веществ.
Дополнительная Система фильтрации твердых органических веществ – OSF предназначена для отделения и последующего количественного определения твердой фазы, выпавшей из пробы флюида при изменении давления, температуры или состава флюида.
Преимущества:
Давление | до 1378 бар (20000 psi) |
Диапазон температуры | от -30 °C до 200 °C |
Объем контейнера со встроенной мешалкой | 100 см3 |
Механизм перемешивания | мешалка с магнитным приводом |
Электропитание | ~ 220В, 50 Гц, 1 ф. |
Система микроскопа высокого давления НРМ:
Детектирование частиц с размером | до 1 µм |
Увеличение микроскопа | до х 5000 |
Специально разработанное программное обеспечение для определения относительного содержания, размера частиц и распределения частиц по размерам |
Система обнаружения твердой фазы SDS:
Мощность лазера | 250 мВт |
Длина волны | Излучение в ближней ИК-области спектра |
Чувствительность детектора | 1 пВт |
Динамический диапазон | 100 Дб |
Детектирование частиц с размером | до 0,2 µм |
Специально разработанное программное обеспечение для регистрации мощности падающего и проходящего через пробу светового излучения (коэффициент пропускания) |